对质谱图窗格的操作进行说明。关于各窗格通用功能,请参阅「窗格的通用操作」。
质谱图窗格
质谱图窗格在读入分析模式被设置为「质谱图」的数据时显示。在批处理表中选中样品的质谱显示在质谱图窗格中。X 轴为质量数,Y 轴为计数或 CPS 数。
点击质谱图窗格工具栏中的下列图标,在质谱图窗格中切换数据。
显示 上一个的样品质谱图。
显示 下一个的样品质谱图。
如果质谱图窗格未显示,从 [视图] 选项卡的 [显示] 组中点击 [窗格]。并请确认工具栏的 突出显示。如未突出显示,请点击
。
在质谱图窗格中仅显示 [显示] 列中选中的质量数的峰。
关于工具栏的功能,请参阅「质谱图窗格」。
可以更改 X 轴/Y 轴的比例尺。操作方法,请参阅「图表的通用操作」的「更改比例尺」。
可以平行移动 X 轴/Y 轴。操作方法,请参阅「图表的通用操作」的「平行移动轴」。
可以扩大显示质谱图的指定范围。操作方法,请参阅「图表的通用操作」的「选定区域扩大」。
可以通过子菜单来更改质谱图的显示类型。
[计数显示模式]:切换显示/隐藏工具提示显示中的计数值。
[三行显示]:切换一层显示和三层显示。
[线显示]:切换显示/隐藏各峰顶点的连接。
[对数调整]:切换对数和线性刻度。
[计数/CPS]:切换计数显示和 CPS 显示。
可以在质谱图中添加注释。
按照下列步骤添加注释。
突出显示图标,光标变为 。
[添加注释] 对话框显示。
[添加注释] 对话框
输入的字符串被写入质谱图上的指定位置。
要将注释保存至批处理表时,从子菜单中选择 [注释]-[在数据中保存注释]。
按照下列步骤删除已添加的注释。
突出显示图标,光标变为 。
即可删除注释。
元素信息数据库中记录的信息可作为与质谱图匹配的模板。利用此功能可对元素进行识别,判断质谱图中的峰是否是多原子离子形成的。
点击工具栏上的 将其打开后,所有元素的元素模板都会显示在质谱上。
要清除元素模板时,请点击
将其关闭。
突出显示图标,光标变为 。
显示 [离子数据库] 对话框,单击 [模板] 按钮,则显示峰质量数附近各元素的同位素信息。
[离子数据库] 对话框
选中质量数以红色字符显示。
为选中质量数的同位素选择元素。如果存在多个同位素,则选择用于生成模板的质量数。
模板在质谱图中重叠显示。模板根据质量数的信号强度进行归一化。
显示模板
各元素的模板分别以不同颜色显示,元素名在标准质量上显示。
如果对相同质量数有多个模板重叠,从子菜单中选择 [元素模板]-[峰加和],就能显示合计的模板。
突出显示图标,光标变为 。
显示确认信息。
即可删除模板。
背景扣除用于从样品质谱中扣除背景质谱背景扣除和空白浓度扣除(从样品的定量结果中扣除空白浓度)不同。
按照下列步骤从样品质谱图中扣除背景质谱图。
使用 OpenLab Server Products、Workstation Plus 或 SDA 时,显示的对话框及文件的保存位置会有所不同。请参阅「参阅」>「使用数据库系统的操作」。
[请选择要扣除的数据] 对话框
显示扣除背景后的质谱图。
在质谱图窗格中,如果是重复测定数据,则仅显示质谱图平均值;如果是多调谐,则仅显示 1 个调谐模式的质谱图。如果要在质谱图窗格中显示多个质谱图,可按照下列步骤操作。
[更改质谱图] 对话框显示。
[更改谱图] 对话框
选择 [当前样品的多个调谐模式],选择显示的调谐模式。
选择 [当前调谐模式的多个样品],在显示的对话框中选择数据,点击 [添加]。
在质谱图窗格中分割显示多个质谱图。
显示多个质谱图
可以将质谱图窗格中分割显示的多个质谱图重叠为 1 个质谱图。
多个质谱图重叠显示。
质谱图重叠
按照下列步骤将分割显示和重叠显示的质谱图返回初始显示。
[更改质谱图] 对话框显示。
返回初始显示。
可以基于重复测定的平均值或个别数据制表。
生成的表将列出各调谐模式的标题信息、质量数、元素名称、CPS、重复次数、SD、RSD(相对标准偏差%)、积分时间等。
可在默认的应用软件中,对得到的表进行编辑和图表化。
显示子菜单。
平均值文件(默认使用 Excel 生成)
返回 [ICP-MSICP-QQQ 数据分析] 窗口。
可以将质谱图复制到剪切板中,可以粘贴到其它软件的文件中使用。操作方法,请参阅「图表的通用操作」的「复制图表」。
可以通过打印机打印质谱图。操作方法,请参阅「窗格的通用操作」的「打印窗格」。