数据采集
干扰校正方程式的思路
如果样品基体浓度较高，且含有像 Cl 这样的元素，那么将形成大量的分子离子干扰其他元素的测定。通过干扰校正方程可校正部分分子离子的干扰。另外如果希望测定样品中的所有同位素，也可以使用校正方程式。下面举例说明。
例）
要测定 As 时，溶液中的 Cl 和 Ar 结合形成的 ArCl + 离子干扰 As 75 的测定。
ArCl + 质量数 75, 77 丰度比为 75.8 : 24.2（Cl 的同位素比），根据质量数未为 77 的 ArCl + 计数可计算质量数未 75 的 ArCl + 计数，减去这部分计数即为 As 计数。但是，质量数 77 中有 Se 的同位素，所以如果样品中含有 Se，则质量数 77 的计数增大。但是由于 Se 中存在质量数 82 同位素，因此可通过测定质量数 82 的计数来估计质量数 77 的 Se 的计数。如下所示。
As、Se、ArCl 的同位素模式
通过下列干扰方程计算 As 的计数值
（75C、77C、82C 分别为质量数 75,77,82 的计数）
所以，使用干扰校正方程式定量 As 时，需要测定质量数 75、77 和 82。
另外，干扰校正方也可分析同位素比随样品源改变的元素，如 Pb。此时，应测定 Pb 的所有同位素来计算 Pb 的总浓度。
1,000×75C - 3.132×(77C - 0.874×82C)
As、Cd 的干扰校正方程式如下：
- As
如果质量数 75 有 ArCl +干扰时，可以通过下列公式校正。
As(75)
= M(75) - 75.8/24.2 * ArCl(77)
= M(75) - 3.132 * ArCl(77) --- (1)
但是，当质量数 77 中也有 Se 的同位素时。77 的 ArCl +可以通过下列公式校正。
ArCl(77)
= M(77) - 7.6/8.7 * Se(82)
= M(77) - 0.874 * Se(82) --- (2)
将公式 (2) 代入公式 (1)，则
As(75)
= M(75) - 3.132 * (M(77) - 0.874 * Se(82))
= M(75) - 3.132 * M(77) + 2.736 * Se(82) -- (3) 考虑 ArCl+、Se
质量数 82 有时存在 Kr 同位素。此时，质量数 82 可以通过下列公式校正。
Se(82)
= M(82) - 11.6/11.5 * Kr(83)
= M(82) - 1.009 * Kr(83) --- (4)
将公式 (4) 代入公式 (3)，则
As(75)
= M(75) - 3.132 * M(77) + 2.736 * (M(82) - 1.009 * Kr(83))
= M(75) - 3.132 * M(77) + 2.736 * M(82) - 2.760 * Kr(83)--- (5) ArCl，Se，Kr 考虑
质量数 77 有时 ArArH +干扰。此时考虑如下。
先测定质量数 77, 80，再计算其比 (77/80)。将得到的比和公式 (4)一起加入到公式 (3) 的质量数 77 校正。
As(75)
= M(75) - 3.132 * (M(77) - 0.874 * M(82) + 1.009 * Kr(83)- ratio of 77/80 * M(80))
= M(75) - 3.132 * M(77) + 2.736 * M(82) - 2.760 * Kr(83) + 3.132 * ratio of 77/80 * M(80) --- (6) 考虑 ArCl、Se、Kr、ArArH + 考虑
- Cd
测定 Cd 时，主要考虑 MoO +和 Sn 的干扰。EPA 6020(CLP-M Ver.9) 中推荐以 114 为测定质量数，EPA 200.8 中推荐以 111 为测定质量数。
用于测定 114 时 (EPA 6020)，用 108, 118 校正 MoO +和 Sn 的干扰。
Cd(114)
= M(114) - 24.1/14.8 * MoO(108) - 0.65/24.2 * Sn(118)
= M(114) - 1.628 * MoO(108) - 0.0269 * Sn(118) --- (7)
108 中 Cd 也有同位素，所以需要校正。
MoO(108)
= M(108) - 0.89/1.3 * Cd(106)
= M(108) - 0.685 * Cd(106) --- (8)
将公式 (8) 代入公式 (7)，则
Cd(114)
= M(114) - 1.628 * (M(108) - 0.685 * Cd(106)) - 0.0269 *Sn(118)
= M(114) - 1.628 * M(108) + 1.115 * Cd(106) - 0.0269 *Sn(118) --- (9) 考虑 MoO+、Sn
含有 Pd 时，会影响质量数 106, 108，所以 106 的 Cd 及 108 的 Mo 如下校正。
Cd(106)
= M(106) - 27.3/22.3 * Pd(105)
= M(106) - 1.224 * Pd(105) --- (10)
MoO(108)
= M(108) -0.89/1.3 * Cd(106) - 26.5/22.3 * Pd(105)
= M(108) -0.685 * (M(106) - 1.224 * Pd(105)) - 1.188 * Pd(105)
= M(108) - 0.685 * M(106) - 0.349 * Pd(105) --- (11)
将公式 (11) 代入公式 (7)，则
Cd(114) = M(114) - 1.628 * (M(108) - 0.685 * M(106) - 0.349 *
Pd(105))- 0.0269 * Sn (118)
= M(114) - 1.628 * M(108) + 1.115 * M(106) + 0.568 *Pd(105) - 0.0269 * Sn (118)
--- (12) 考虑 MoO、Cd、Pd
用于测定质量数 111 时 (EPA 200.8)，用 108 校正 MoO +的干扰，但公式 (8) 中表示的 Cd 对 108 的影响也要考虑。
Cd(111)
= M(111) - 15.9/14.8 * MoO(108)
= M(111) - 1.074 * (M(108) - 0.685 * Cd(106))
= M(111) - 1.074 * M(108) + 0.735 * Cd(106)--- (13) 考虑 MoO+
考虑到 Pd 的影响，如果将公式 (11) 代入公式 (13)，则
Cd(111)
= M(111) - 1.074 * (M(108) - 0.685 * M(106) - 0.349 *Pd(105))
= M(111) - 1.074 * M(108) + 0.736 * M(106) + 0.375 * Pd(105)--- (14) 考虑 MoO+，Pd
下面举例 EPA 推荐的干扰校正方程式。
- EPA 200.8
As (1.000) (75C) - (3.127) [(77C) - (0.815) (82C)]
Cd (1.000) (111C) - (1.073) [(108C) - (0.712) (106C)]
Pb (1.000) (206C) + (1.000) (207C) + (1.000) (208C)
Mo (1.000) (98C) - (0.146) (99C)
V (1.000) (51C) - (3.127) [(53C) - (0.113) (52C)]
In (1.000) (115C) - (0.016) (118C)
- EPA Method 6020 (CLP-M Ver.9)
As (1.0000) (75C) 15.875 mm- (3.127) (77C) + (1.0177) (78C)
Cd (1.0000) (114C) - (0.0149) (118C) - (1.6285) (108C)
Pb (1.0000) (208C) + (1.0000) (207C) + (1.0000) (206C)
Se (1.0000) (78C) - (0.1869) (76C)
V (1.0000) (51C) - (3.1081) (53C) + (0.3524) (52C)
6Li (1.0000) (6C) - (0.0813) (7C)
In (1.0000) (115C) - (0.0149) (118C)
“m” C ： 质量数为“m” 的计数值
EPA 推荐的校正方程式不仅是理论值，还是实验值。
分子离子的生成率根据仪器或测定条件而有所不同，所以建议不要直接使用 EPA 的校正方程式，而是根据设备的实际情况更改后使用。
如果分子离子的信号相对测定元素的信号过大，则干扰校正方程式误差增大，需要注意。例如分子离子的信号有 10,000 计数，则标准偏差为约 100 计数。这种状态下，如果测定元素的信号为 100 计数，则使用干扰校正公式也不能正确校正。而且如果多个计算公式重复使用内标校正时，这些误差会累积，所以干扰方程式越复杂误差越大。
干扰校正公式的设置
通过元素选择窗格 [选择元素] 进行。
校正方程式中的括弧必须全部展开，为各质量数设置参数。干扰校正方程式的需在采集参数之前设置。
此时，如果将被校正的质量数选作测定质量数，则用于校正的其他质量数也被自动设置为测定质量数。