このダイアログでは、コンディショニングで使用するチューニングパラメータを設定します。コンディショニングを実行するには、[バッチ測定の設定] ダイアログボックスの [高安定性モード] で、[典型的な環境試料 (ICS-A)] または [典型的な材料マトリックス試料 (1%Cu)] を選択する必要があります。
サンプルタイプ
[典型的な環境試料 (ICS-A)] または [典型的な材料マトリックス試料 (1%Cu)] を設定できます。
[典型的な環境試料 (ICS-A)] を選択した場合：
コンディショニングを実行するときには、チューンモードペインの [プラズマモード] で [一般用] を選択し、[バッチ測定の設定] ダイアログボックスの [高安定性モード] で [典型的な環境試料 (ICS-A)] を選択してください。
[典型的な材料マトリックス試料 (1%Cu)] を選択した場合：
コンディショニングを実行するときには、チューンモードペインの [プラズマモード] で [HMI-25] を選択し、[バッチ測定の設定] ダイアログボックスの [高安定性モード] で [典型的な材料マトリックス試料 (1%Cu)] を選択してください。
バイアル番号
そのコンディショニングで使用する溶液のバイアルを設定します。
質量数 1、質量数 2 および質量数 3
そのコンディショニングでモニターする質量数を設定します。
<詳細>
さらに詳細な設定ができます。
プラズマモード
コンディショニング実行時に使用するプラズマモードを選択します。低マトリックス、一般用、HMI -4、HMI-8、HMI-25、HMI-50、およびHMI-100 から選択できます。
コンディショニング時間
コンディショニングが終わるまでの時間が表示されます。
コンディショニング前後/コンディショニング中
高安定性チューンを実行するタイミングを設定します。高安定性チューンは、コンディショニングの前後、またはコンディショニング実行中の感度変化を測定します。
待ち時間
[コンディショニング中] を選択した場合に有効になり、測定を開始するまでの待ち時間（0～72000 秒）を入力します。
積分時間
各質量数を測定する積分時間を入力します。
繰り返し
高安定性チューン測定の繰り返し回数（0～1000）を入力します。
ドリフトファクタ
コンディショニング中の間の評価値のバイアス（-100～+100%）を設定します。
<キューに追加>
コンディショニングタスクをキューに追加し、このダイアログを閉じます。
内部的には、以下のプロセスが実行されます。
1. 標準のレンズオートチューンが実行されます。[点火シーケンスの設定] ダイアログボックスで [ユーザーチューン] が選択されている場合は、ベースチューンのレンズオートチューンが実行されます。
2. 1 で得られたレンズパラメータを使って、コンディショニングが実行されます。
コンディショニング中は、ステータスバーに進行状態が表示されます。
コンディショニングが完了すると、「LDrfOptTune.log」が、「¥Agilent¥ICPMH¥Log」フォルダにCSV形式で出力されます。
<ペリポンプ>
[バッチ後の洗浄設定] ダイアログボックスが表示され、高安定性チューンに使用するポストランを設定できます。
<OK>
これらのパラメータがシステムに適用されますが、コンディショニングは実行されません。
<キャンセル>
設定を中止します。
パラメータの初期値
コンディショニングのパラメータの初期値は以下のとおりです。
パラメータ |
||
典型的な環境試料（ICS-A） |
典型的な材料 |
|
質量数 1 |
7 |
6 |
質量数 2 |
89 |
89 |
質量数 3 |
205 |
205 |
プラズマモード |
一般用 |
一般用 |
コンディショニング時間 |
1200 |
1500 |
高安定性チューン調整 |
コンディショニング前後 |
コンディショニング中 |
待ち時間 |
0 |
600 |
積分時間 |
0.1 |
0.1 |
繰り返し |
5 |
5 |
ドリフトファクタ |
0 |
0 |
ダッシュボードペインの [メインフレーム] をクリックして表示されるコンテキストメニューから、[コンディショニング設定] を選択します。
[設定] ダイアログボックスの [システム] － [ハードウェア] － [メインフレーム] － [コンディショニング] をクリックします。